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薄膜厚度仪图1

薄膜厚度仪

2023-06-07 06:108780询价
价格:电议

薄膜厚度仪产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

薄膜厚度仪应用案例

应用领域

                      半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)         LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)                                   

LED (SiO2、光刻胶ITO等)                      触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等) 

               

 汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)             医学(聚对二甲苯涂层球囊/*壁厚药膜等)

技术参数

型号

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

波长范围

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范围

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

准确度1

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

样品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

测量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在线

扫描选择

XY可选

XY可选

XY可选

XY可选

 

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